phoenix v|tome|x m - Vielseitiger industrieller mikroCT Scanner

CT System der Spitzenklasse für Industrie und Wissenschaft
Das einzigartiges Paket GE-eigener Technologien wie scatter|correct oder high-flux|target erhöht den Probendurchsatz und die Qualität bei CT Inspektionen mit dem phoenix v|tome|x m spürbar. Der Tomograph bietet eine führende Vergrößerung und Leistung bei 300 kV mit bis zu < 1 μm Detailerkennbarkeit. GE’s hochauflösender dynamic 41 Digitaldetektor und die automatische click & measure|CT Funktion, sowie das optionale Be- und Entladen mit Roboter machen das System zu einem effizienten 3D Untersuchungsinstrument. Dank seiner dual|tube Konfiguration liefert das System detaillierte 3D Informationen für ein sehr breites Probenspektrum: von hoch auflösender nanoCT® schwach absorbierender Proben bis hin zu Hochleistungs μCT Anwendungen wie die Inspektion von Turbinenschaufeln.

In der production|edition kann der phoenix v|tome|x m mit einem optionalen kollaborativen Roboter für die voll automatierte atline- oder inlineCT zu Prozessoptimierung und bis zu 100% Prüfung ausgestattet werden. 

 

phoenix v|tome|x m datasheet German

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Features und Vorteile

GE Inspection Technologies - ausgezeichnet mit dem Frost & Sullivan Industrial CT of the Year Award 2016

GE Inspection Technologies wins Global Industrial CT Systems Company of the Year Award

Frost & Sullivan Global Industrial CT Systems Company of the Year 2016 Award

Frost & Sullivan Global Industrial CT Systems Company of the year Award for GE Inspection Technologies

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